赫爾納供應(yīng)德國(guó)SENTECH光譜橢偏儀

赫爾納供應(yīng)德國(guó)SENTECH光譜橢偏儀

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢(shì)供應(yīng),德國(guó)總部直接采購(gòu)，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品，為您提供一對(duì)一好的解決方案，貨期穩(wěn)定。

公司簡(jiǎn)介：

SENTECH 是德國(guó)的“聚合物表面高柔性光學(xué)精密層 (FlexCoPas) 研究"項(xiàng)目的一部分。在該項(xiàng)目中，我們已經(jīng)能夠開(kāi)發(fā)出一種設(shè)備，該設(shè)備可以執(zhí)行箔片和透鏡上的透射測(cè)量。

SENTECH光譜橢偏儀主要產(chǎn)品：

SENTECH光譜反射計(jì)

SENTECH光譜橢偏儀

SENTECH光譜橢偏儀產(chǎn)品型號(hào)：

SENresearch 4.0

SENpro

SENTECH光譜橢偏儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

光譜橢偏儀測(cè)量單層和多層堆疊的薄膜厚度和折射率?？梢苑治鰤K體材料、各向同性和各向異性材料、表面和界面粗糙度以及梯度的相關(guān)屬性。新SENresearch 4.0為 190 nm（深紫外）至 3,500 nm（近紅外）寬光譜范圍內(nèi)的光譜橢偏測(cè)量而設(shè)計(jì)。

SENTECH光譜橢偏儀產(chǎn)品應(yīng)用：

SENTECH光譜橢偏儀每個(gè)SENresearch 4.0都是客戶定的光譜橢圓偏振解決方案SENresearch 4.0可配置為完整的 Mueller 矩陣、各向異性、SENTECH光譜橢偏儀廣義橢圓偏振、散射測(cè)量等，SENpro橢偏儀是光譜橢偏儀應(yīng)用的智能解決方案。它具有一個(gè)入射角為 5° 步長(zhǎng)的測(cè)角儀。簡(jiǎn)單的操作、快速的測(cè)量和直觀的數(shù)據(jù)分析結(jié)合在經(jīng)濟(jì)高效的設(shè)計(jì)中，SENTECH光譜橢偏儀用于測(cè)量單層薄膜和多層膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。FTIR 橢偏儀SENDIRA具有振動(dòng)光譜功能。測(cè)量紅外中分子振動(dòng)模式的吸收帶，SENTECH光譜橢偏儀分析長(zhǎng)分子鏈的取向和薄膜的組成。紅外光譜橢圓光度法適用于測(cè)量導(dǎo)電薄膜的載流子濃度。SENDURO 的自動(dòng)光譜橢偏儀包括基于配方的快速數(shù)據(jù)分析，可在幾秒鐘內(nèi)進(jìn)行。SENTECH光譜橢偏儀橢圓偏振儀的設(shè)計(jì)易于操作：放置樣品、自動(dòng)樣品對(duì)準(zhǔn)、自動(dòng)測(cè)量和分析、結(jié)果。在自動(dòng)模式下使用光譜橢偏儀適合質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應(yīng)用。SENDURO  MEMS使用光譜反射計(jì)和橢圓光度計(jì)薄膜堆棧測(cè)量。SENTECH光譜橢偏儀晶圓從標(biāo)準(zhǔn)盒中裝載，配方進(jìn)行質(zhì)量控制測(cè)量。在傳感器和 MEMS 生產(chǎn)中，通常會(huì)加工雙面晶圓，并且進(jìn)行背面保護(hù)。光譜橢偏儀軟件SpectraRay/4的設(shè)計(jì)注重直觀的工作流程。SENTECH光譜橢偏儀因此，SpectraRay/4包括具有兩步操作（開(kāi)始測(cè)量、結(jié)果）的配方模式和用于逐步數(shù)據(jù)分析的交互模式。SpectraRay/4的綜合包支持廣義橢圓測(cè)量、Mueller 矩陣形式、散射測(cè)量（3D 輪廓儀）、各向異性和模擬。激光橢偏儀SE 400adv可測(cè)量透明薄膜的厚度和折射率，SENTECH光譜橢偏儀具有測(cè)量速度快、厚度精度達(dá)到亞埃級(jí)以及折射率測(cè)定精度達(dá)到的特點(diǎn)。CER 橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結(jié)合在一個(gè)系統(tǒng)中。這種組合可實(shí)現(xiàn)零度反射測(cè)量，SENTECH光譜橢偏儀以實(shí)現(xiàn)快速薄膜分析，并通過(guò)激光橢偏儀的亞埃級(jí)精度對(duì)透明薄膜進(jìn)行明確的厚度測(cè)定，將可測(cè)量厚度范圍擴(kuò)SENTECH光譜橢偏儀展至 25 µm。光譜反射計(jì)RM 1000/2000 的光譜范圍為 200 nm – 930 nm 的 UV 至 NIR。光學(xué)布局對(duì)光通量進(jìn)行了優(yōu)化，使在粗糙或彎曲的表面上也能測(cè)量 n 和 k。SENTECH光譜橢偏儀高度和傾斜調(diào)整可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的單光束反射率測(cè)量，具有快速的厚度測(cè)量功能。測(cè)量時(shí)間不到 100 毫秒，精度低于 0.3 nm，膜厚范圍為 50 nm – 25 µm。SENTECH光譜橢偏儀包含多種預(yù)定義配方，可進(jìn)行光譜反射測(cè)量操作。